镀层成分分析是通过综合的分离和剖析技术对复杂的未知化学品的组成成分进行定性和定量分析,为研发、配方研究、产品开发、改进生产工艺提供分析支持,为企业改善产品质量提供有力的技术支撑。
工作原理:
XRF指的是X射线荧光光谱仪,即通过X射线穿透原子内部电子,由外层电子补给产生特征X射线,根据元素特征X射线的强度,即可获得各元素的含量信息。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。
适合分析材料:
铝合金、不锈钢、铬钼合金、金属焊料、钛合金、工具钢、镍基或钴基等“**级合金”进行材料牌号匹配和元素定量分析。
XRF的优点:
1) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。
2) 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
3) 分析精密度高。
4) 制样简单。固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
5) 测试元素范围大。WDX可在ppm-**浓度下检测B5-U92,而EDX可在1ppm-100ppm下检测大多数元素,Na11-U92。此外还可以检测Cu合金中的Be含量。
6) 可定量分析材料元素组成,分辨率高。探针尺寸为500μm (WDX), 75μm (EDX)。
案例分享:
实验方法:
将金属镍片裁剪成1.2cm x 1.2cm 或者 3.1cm x 4cm的长方条,放入醋中浸泡清洗,取出晾干,进行电沉积。将电沉积后的样品直接放入荧光样品盒中进行测定。
测量步骤:
用XRF荧光仪,先测定需要沉积的元素 2Θ 和荧光强度,定性判断是否沉积上该元素;对于沉积上的样品进行半定量分析。
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